服務(wù)內(nèi)容

廣電計量目前已實現(xiàn)12位AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片電性能測試程序的開發(fā)。

服務(wù)范圍

AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試 光電器件:數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號的處理和識別、數(shù)字通信和語音信息處理等將數(shù)字量和模擬量互相轉(zhuǎn)換電路的儀器設(shè)備。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理。

檢測項目

AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試 光電器件:AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片電性能測試及程序開發(fā)，其中測試技術(shù)指標(biāo)：

（1）A/D轉(zhuǎn)換器參數(shù)符號及名稱

（2）D/A轉(zhuǎn)換器參數(shù)符號及名稱

相關(guān)資質(zhì)

CMA、CNAS

測試周期

開發(fā)周期：4-8周；常規(guī)測試周期：3-5個工作日。

服務(wù)背景

在現(xiàn)代工業(yè)化社會中，工業(yè)的生產(chǎn)場景涉及到方方面面與計算機協(xié)同生產(chǎn)的需求。在數(shù)字系統(tǒng)的應(yīng)用中，通常要將一些被測量的連續(xù)變化的物理量通過傳感器送到數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行加工處理，經(jīng)過處理獲得的輸出數(shù)據(jù)又要送回物理系統(tǒng)，對系統(tǒng)物理量進(jìn)行調(diào)節(jié)和控制。

在實際生產(chǎn)場景中，是由設(shè)備的傳感器對生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的電壓、電流、壓力、溫度、位移、流量等的實時改變進(jìn)行記錄并轉(zhuǎn)換成模擬電信號。傳感器輸出的模擬電信號需轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號（計算機內(nèi)部需要的離散數(shù)字量，即二進(jìn)制數(shù)、十進(jìn)制數(shù)等），數(shù)字系統(tǒng)才能對模擬信號進(jìn)行處理。這種模擬量到數(shù)字量的轉(zhuǎn)換稱為模-數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換。處理后獲得的數(shù)字量有時又需轉(zhuǎn)換成模擬量返回到實際生產(chǎn)場景中指引設(shè)備進(jìn)行后續(xù)工作，這種轉(zhuǎn)換稱為數(shù)-模（D/A)變換。

A/D轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter簡稱為ADC）和D/A轉(zhuǎn)換器(Digital to Analog Converter簡稱為DAC）是數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)的接口電路。通過A/D和D/A兩個方向的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，即可實現(xiàn)生產(chǎn)設(shè)備與計算機的協(xié)同生產(chǎn)，如汽車流水線上的機械手和雷達(dá)。

越復(fù)雜的生產(chǎn)場景對AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片的可靠性越高，電性能測試是檢驗AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。

我們的優(yōu)勢

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界的專家團隊及先進(jìn)的失效分析設(shè)備，可為客戶提供完整的失效分析檢測服務(wù)，幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效，找到失效根源。同時，我們可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務(wù)，如配合客戶開展NPI階段驗證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。

常見問題

Q：AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試常見誤差有哪些？

A：零點誤差、增益誤差、差分非線性誤差及積分非線性誤差。